DSpace Community: http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/188 2026-05-30T00:46:59Z Περιγραφή της χρήσης του παντογράφου και παραδείγματα εφαρμογής του σε σύγχρονο βιομηχανικό περιβάλλον http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/13246 Title: Περιγραφή της χρήσης του παντογράφου και παραδείγματα εφαρμογής του σε σύγχρονο βιομηχανικό περιβάλλον Authors: Χατζηδημητρίου, Μιχαήλ Description: Πτυχιακή εργασία-- Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών --Τμήμα Τμήμα Μηχανολόγων Οχημάτων,2015--7397 Crack identification in beam structures using both mechanical impedance and eigenfrequency changes http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10018 Title: Crack identification in beam structures using both mechanical impedance and eigenfrequency changes Authors: Bamnios, George; Douka, Eleni; Trochidis, Athanasios Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικής, 2001 2001-01-01T00:00:00Z FPGAs and Wavelets on Circuit Testing Based on Current Signal Measurements http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10097 Title: FPGAs and Wavelets on Circuit Testing Based on Current Signal Measurements Authors: Histov, Valentin; Hatzopoulos, Alkiviadis; Bamnios, George; Papakostas, Dimitrios; Manolakis, Dimitrios; Vassios, Vasilios; Pouros, Sotirios Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2015 2015-06-01T00:00:00Z Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10094 Title: Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits Authors: Dimopoulos, Michael; Spyronasios, Alexios; Hatzopoulos, Alkiviadis; Tsatsoulis, N.; Papakostas, Dimitrios Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών,2012 2012-03-01T00:00:00Z