<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" version="2.0">
  <channel>
    <title>DSpace Collection:</title>
    <link>http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/190</link>
    <description />
    <pubDate>Sat, 30 May 2026 00:44:26 GMT</pubDate>
    <dc:date>2026-05-30T00:44:26Z</dc:date>
    <item>
      <title>Περιγραφή της χρήσης του παντογράφου και παραδείγματα εφαρμογής του σε σύγχρονο βιομηχανικό περιβάλλον</title>
      <link>http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/13246</link>
      <description>Title: Περιγραφή της χρήσης του παντογράφου και παραδείγματα εφαρμογής του σε σύγχρονο βιομηχανικό περιβάλλον
Authors: Χατζηδημητρίου, Μιχαήλ
Description: Πτυχιακή εργασία-- Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών --Τμήμα Τμήμα Μηχανολόγων Οχημάτων,2015--7397</description>
      <guid isPermaLink="false">http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/13246</guid>
    </item>
    <item>
      <title>Crack identification in beam structures using both mechanical impedance and eigenfrequency changes</title>
      <link>http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10018</link>
      <description>Title: Crack identification in beam structures using both mechanical impedance and eigenfrequency changes
Authors: Bamnios, George; Douka, Eleni; Trochidis, Athanasios
Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικής, 2001</description>
      <pubDate>Mon, 01 Jan 2001 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10018</guid>
      <dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
    <item>
      <title>FPGAs and Wavelets on Circuit Testing Based on Current Signal Measurements</title>
      <link>http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10097</link>
      <description>Title: FPGAs and Wavelets on Circuit Testing Based on Current Signal Measurements
Authors: Histov, Valentin; Hatzopoulos, Alkiviadis; Bamnios, George; Papakostas, Dimitrios; Manolakis, Dimitrios; Vassios, Vasilios; Pouros, Sotirios
Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 2015</description>
      <pubDate>Mon, 01 Jun 2015 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10097</guid>
      <dc:date>2015-06-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
    <item>
      <title>Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits</title>
      <link>http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10094</link>
      <description>Title: Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits
Authors: Dimopoulos, Michael; Spyronasios, Alexios; Hatzopoulos, Alkiviadis; Tsatsoulis, N.; Papakostas, Dimitrios
Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών,2012</description>
      <pubDate>Thu, 01 Mar 2012 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10094</guid>
      <dc:date>2012-03-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
  </channel>
</rss>

